当前位置: 首页> 热门产品 > 半导体参数测试
半导体参数测试相关产品
  • 半导体分立器件静态参数测试仪系统

    产品介绍:

    半导体分立器件静态参数测试仪系统陕西天士立科技有限公司/STD2000/半导体分立器件参数测试仪系统可以测试Si,SiC,GaNIGBT、Mosfet、Diode、BJT、SCR、OC/光耦......等很多电子元器件的静态直流参数和IV曲线(如击穿电压V(BR)CES/V(BR)DSs、漏电流ICEs/lGEs/IGSs/lDSs、阈值电压/VGE(th)、开启电

  • IV曲线追踪扫描仪&半导体图示仪

    产品介绍:

    IV曲线追踪扫描仪半导体图示仪能测IGBT.Mosfet.Diode.BJT......STD2000IV曲线追踪扫描仪系统能测试很多电子元器件的静态直流参数(如击穿电压V(BR)CES/V(BR)DSs、漏电流ICEs/lGEs/IGSs/lDSs、阈值电压/VGE(th)、开启电压/VCE(on)、跨导/Gfe/Gfs、压降/Vf、导通内阻Rds(on))。测试种类覆盖7