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半导体测试相关产品
  • 功率模块可靠性测试仪

    产品介绍:

    一、测试设备功能和技术指标1.主要适用功能:本测试设备可对晶闸管、整流管的电耐久性进行试验,测试设备主要技术条件符合JB/T-7626-2013等相关标准。***设备的安全性和使用耐久性。2.控制方式:采用手动调压试验。对试验电参数(试验时间、电压、漏电流,)进行显示。10个工位为一组控制,共两组

  • DIDT测试仪

    产品介绍:

    西安智盈DBC-112可控硅静态参数测试台一、产品简介该测试系统是晶闸管静态参数检验测试中不可缺少的专用测试设备。该套测试设备主要有以下几个单元组成:1)门极触发参数测试单元2)维持电流测试单元3)阻断参数测试单元4)通态压降参数测试单元5)电压上升率参数测试单元6)擎住电流7

  • 雪崩能量测试仪

    产品介绍:

    西安智盈电气科技有限公司,是一家专业从事功率半导体测试设备自主研发制造与综合测试分析服务的高新技术企业,核心业务为半导体功率器件测试设备的研制生产,公司产品主要有:MOSFET参数测试设备:静态参数测试(包括IGSS/BVR/VDS(Sat)/IDSS/VGSTH/VF/RDS(on));动态参数(

  • 元器件、晶闸管全动态测试系统

    产品介绍:

    一.功能简介全动态测试的基本原理是在一个工频半周内对被测元件施加半波电流,电流的平均值由元件的额定电流值决定,而在另一个半周内施加正向或反向的正弦半波阻断电压,测量它的动态阻断伏安特性,它模拟了元件在整流电路中的工作情况。全动态测试法是对元件的通态电流能力、阻断电压能力的一

  • IGBT动态参数测试仪

    产品介绍:

    核心业务为半导体功率器件测试设备的研制生产,公司产品主要有:MOSFET参数测试设备:静态参数测试(包括IGSS/BVR/VDS(Sat)/IDSS/VGSTH/VF/RDS(on));动态参数(开通关断/反向恢复/短路/安全工作区)测试(包括Turn_onoff/Qrr_FRD/Qg/Rg/UIS/SC/RBSOA等);雪崩能

  • IGBT静态参数测试仪

    产品介绍:

    核心业务为半导体功率器件测试设备的研制生产,公司产品主要有:MOSFET参数测试设备:静态参数测试(包括IGSS/BVR/VDS(Sat)/IDSS/VGSTH/VF/RDS(on));动态参数(开通关断/反向恢复/短路/安全工作区)测试(包括Turn_onoff/Qrr_FRD/Qg/Rg/UIS/SC/RBSOA等);雪崩能力

  • 可控硅通态压降测试台

    产品介绍:

    西安智盈DBC-112可控硅静态参数测试台一、产品简介该测试系统是晶闸管静态参数检验测试中不可缺少的专用测试设备。该套测试设备主要有以下几个单元组成:1)门极触发参数测试单元2)维持电流测试单元3)阻断参数测试单元4)通态压降参数测试单元5)电压上升率参数测试单元6)擎住电流7

  • 二极管、晶闸管测试仪

    产品介绍:

    西安智盈电气二极管测试仪是针对二极管分选设备而设计配套的智能型测试仪器。主要用于二极管在恒定电流时其两端的正向电流电压,反向恒压时测量其反向漏电流。也可用作一般直流电压源、电流源使用。仪器输出电压可以任意设置,若选择合适的输出电压,可有效消除测...

  • BW-IFSM/ITSM 半导体浪涌测试系统

    产品介绍:

    BW-IFSM/ITSM半导体浪涌测试系统产品用途:BW-IFSM/ITSM可用于各类二极管(Diode)以及可控硅(SCR)的正向浪涌电流(IFSM)试验,包括三极管(Triode)、MOSFTE、IGBT等全控器件的内置二极管的浪涌测试。二极管元件在实际使用中,除了能长期通过额定通态平均电流外,还应能承受一定倍数的浪

  • 高精度半导体分立器件测试系统

    产品介绍:

    BWDT-4022A晶体管直流参数测试系统一、产品介绍:BWDT-4022A晶体管直流参数测试机是新一代针对半导体器件测试系统,经过我公司多次升级与产品迭代,目前测试性能、精度、测试范围及产品稳定度得到大幅提升,成为半导体电子行业、新能源行业、封装测试、家电行业、科研教育等领域来料检验、研

  • 晶体管光耦参数测试仪(双功能版)

    产品介绍:

    BW-3010B晶体管光耦参数测试仪(双功能版)BW-3010B型光藕参数测试仪是专为各种4脚三极管型的光电耦合器的功能和参数测试及参数合格/不合格(OK/NO)判断测试。,BW-3010B为各种三极管型4脚光藕提供了输入正向压降(VF)和输出反向耐(ICEO)、耐压BVCEO、传输比(CTR)等。中文软件界面友好,简化了系统

  • 半导体高精度自动温度实验系统

    产品介绍:

    BW-AH-5520半导体高精度自动温度实验系统产品名称:半导体高精度自动温度实验系统品牌:博微电通名称:半导体高精度自动温度实验系统型号:BW-AH-5520用途:BW-AH-5520半导体高精度自动温度实验系统采用特殊的结构设计,保证待测元器件区域温度高稳定度及均匀度。采用双高精度RTD温度

  • 二极管浪涌测试系统

    产品介绍:

    BW-IFSM/ITSM二极管浪涌测试系统产品简介:可用于各类二极管(Diode)以及可控硅(SCR)的正向浪涌电流(IFSM)试验,包括三极管(Triode)、MOSFTE、IGBT等全控器件的内置二极管的浪涌测试。二极管元件在实际使用中,除了能长期通过额定通态平均电流外,还应能承受一定倍数的浪涌过载电流而不

  • 车规级功率器件热循环负载试验台

    产品介绍:

    BW-TRL2000车规级功率器件热循环负载试验台产品简介:BW-TRL2000车规级功率器件热循环负载试验台是一种二极管热循环负载试验系统,其特征是在于其包括:一反向漏电流采样电路,用于测试被测二极管的反向漏电流;一加热控制电路,用于提供被测二极管的加热恒定电流;一瞬态热阻测试模块,用于提供被

  • 日本CATS 替代 易恩栅电荷测试系统

    产品介绍:

    日本CATS替代易恩栅电荷测试系统ENS1040栅电荷测试系统功能指标测量参数技术条件开启栅电荷QgOn

  • 西安厂商直供功率循环测试

    产品介绍:

    西安厂商直供功率循环测试ENG1220IGBT功率循环测试系统概述易恩电气ENG1220IGBT功率循环测试系统测试方法符合GB/T29332-2012/IEC60747-9:2007及GB4023-83等相关标准。IGBT功率循环测试设备,是IGBT测试的重要检测设备,该设备具有如下特点:1.该测试系统是一套动态综合的测试系统,测试参

  • 西安厂商直供大功率浪涌测试仪

    产品介绍:

    西安厂商直供大功率浪涌测试仪ENL3010浪涌测试系统系统概述ENL3010浪涌测试系统,设备可输出17.7mS、80kA的电流,对被测器件进行浪涌电流试验;浪涌电流测试系统西安易恩电气ENL3010浪涌测试系统,该测试台通过电容充放电原理产生电流波形,根据不同的测试条件,设定好各试验参数,再通

  • 西安厂商直供雪崩耐量测试仪

    产品介绍:

    西安厂商直供雪崩耐量测试仪ENX2020雪崩耐量测试系统概述向半导体的接合部施加较大的反向衰减偏压时,电场衰减电流的流动会引起雪崩衰减,此时元件可吸收的能量称为雪崩耐量,表示施加电压时的抗击穿性。对于那些在元件两端产生较大尖峰电压的应用场合,就要考虑器件的雪崩能量,电压尖峰所集中