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GIS局部放电测试仪相关产品
  • GIS局部放电测试仪

    产品介绍:

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    商:
  • GIS局部放电测试仪

    产品介绍:

    GIS局部放电主要由下列缺陷引发:*载流导体表面缺陷:如毛刺,尖角,等引起导体表面电厂强度不均匀,这种缺陷通常在制造或安装时造成的,在稳定的工频电压下不易引起击穿,但在操作或冲击电压下很可能引起击穿。