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高级的试块和校准膜片可以提前方便的检验仪器，和可靠的校准仪器。根据应用和测量的范围不同，可以选择适合的铁基试块和非铁基试块。如果需要满足更高的要求，我们提供更精准的膜片套装，以减小误差。根据要求，随带
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PC-LEPTOSKOP是由KARLDEUTSCH公司提供膜层测厚仪的探头，它只需和普通电脑的串口线相连。所以普通膜层测厚仪的功能均可通过与WINDOWS操作系统匹配的通用电脑软件STATWIN
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可定制带系统的涂层测厚涂层测厚仪LEPTOSKOP2042利用磁感应法（DINENISO2178）测量铁磁基体上的非铁磁层的厚度并且利用涡流法（DINENISO2360）测量非铁磁材
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