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半导体器件静态特性综合试验台

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话: 029-89233978

址: 陕西省西安市高新区造字台路109号初元科技园1幢1单元10202室

商品信息

 u一、概述

u  DBC-223型半导体器件静态特性综试验台的测试方法符合JB/T7626-2013中的相关标准。
u该设备具有如下特点:
u1. 该测试系统是一套静态综合的测试系统,综合测试参数多,技术水平较高。
u2. 该测试系统是一套大电流、高电压的测试设备,对设备的电气性能要求高。
u3. 该系统是一套静态参数的集成测试系统,因此该设备的结构设计较为复杂
u4. 该系统的测试控制完全采用自动控制,测试可按测试员设定的程序进行自动测试。
u5. 该系统采用计算机记录测试结果,并可将测试结果转化为EXCEL文件进行处理,还能实时打印测试结果。
u6. 该测试系统是半导体器件检验测试中不可缺少的专用测试设备。
u 该套测试设备主要由以下几个单元组成:
u1) 门极触发参数测试单元
u2) 维持电流测试单元
u3) 通态电压参数测试
u4) 阻断参数测试单元

5) 计算机控制系统