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详细说明产品说明:时代超声波测量厚仪系列是集当代科技电子技术和测量技术于一体的、先进的无损检测仪器,采用微电脑对数据时行分析、处理、显示,采用高度优化的测量电路,具有测量精度高、范围宽、操作简便
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TT320超声波测厚仪TT320的详细介绍产品说明:具有高温测试功能显示分辨率:0.1mm适合测量金属、塑料、陶瓷、玻璃及其他任何超声波的良导体的厚度大屏幕LCD背光显示,可调对
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特点:直接测量,测量大多数涂层时无需调校菜单操作双色指示灯,适于嘈杂环境重置功能可以即时恢复出厂设置耐用耐溶剂、酸、油、水和灰尘,防护等级满足或超出IP5X显示屏耐划伤/溶剂,适用于恶劣环境防震保护
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MINITEST720/730/740涂层测厚仪-创新的SIDSP(探头内部数字信号处理)技术提升了测量的精确性-测量范围达15mm,可更换F、N或FN探头,供内置或外接探头使用-FN探头自动
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CMI165是一款人性化设计、坚固耐用的世界首款带温度补偿功能的手持式铜箔测厚仪。-可测试高温的PCB铜箔-显示单位可为mils,μm或oz-可用于铜箔的来料检验-可用于蚀刻或整平后的铜厚定量
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MIKROTEST7F数字式履层测厚仪MIKROTEST7F数字式涂层测厚仪MIKROTEST7F数字式履层测厚仪MIKROTEST7F数字式涂层测厚仪的详细介绍特点:Mik
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MIKROTEST7G数字式履层测厚仪MIKROTEST7G数字式涂层测厚仪MIKROTEST7G数字式履层测厚仪MIKROTEST7G数字式涂层测厚仪的详细介绍MIKROTES
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MIKROTESTNiFe50涂镀层测厚仪MIKROTESTNiFe50涂层测厚仪MIKROTESTNiFe50涂镀层测厚仪MIKROTESTNiFe50涂层测厚仪的详细介绍MI
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CM-8829S涂层测厚仪CM8829SCM-8829S涂层测厚仪CM8829S产品简介产品型号: CM-8829S (分体传感器涂层测厚仪)功能: 测量导磁物体上的非导磁涂层和非磁性金属基体上的
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CM-8829涂层测厚仪CM8829CM-8829涂层测厚仪CM8829产品简介产品型号: CM-8829S (分体传感器涂层测厚仪)功能: 测量导磁物体上的非导磁涂层和非磁性金属基体上的非导电覆
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精密超声波测厚仪,采用超声波测量原理,适用于能使超声波以一恒定速度在其内部传播,并能从其背面得到反射的各种材料厚度的测量。一、技术参数:测量范围:0.75-300mm(钢).显示精度:0.01mm
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TM-8810测厚仪TM-8810的详细介绍详细说明型号:TM-8810测量范围:1.5~200mm传感器:超声波可测材料:11种
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这些仪器容易操作,是设计用于测量涂层厚度的。干膜:由2个固定点(或外部管套)和一个中心活动传感器,给出的涂层表面和基体光面的高度测量值的差,就是干膜的厚度。湿膜:在仪器上部有一个带凸边的螺钉,可使探头
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PocketMIKE超声波测厚仪PocketMIKE的综合设计思想把探头和仪器结合在一个外壳中,真正实现了单手操作,并且功能强大,操作简便。•小巧的设计:探头和显示器在同一设备中,
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该仪器简单实用。轮规型测厚仪可在刚涂布好的湿膜上测量涂膜厚度。仪器的刻度以微米表示,提供以下厚度范围:型号测量范围读数精度234R/I0~25μm1μm234R/II0~50μm2
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MAGNAMIKE8500美国达高特DAKOTA霍尔效应测厚仪MAGNAMIKE8500是一种手持式操作方便的厚度测量仪,利用磁学方法对非铁磁性材料进行快速、精确和可重复的厚度测量。测厚时,将磁探
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PVX美国DAKOTA达高特A/B扫描超声波测厚仪PVXDAKOTAULTRASONICS公司带A/B扫描功能的精密超声波测厚仪PVXPVX美国DAKOTA达高特A/B扫描超声波测厚仪PVX主要特点
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Elcometer456分离式(插入式)探头选择多样,应用广泛,测量金属基体的多种涂层的厚度。有基本型、标准型、高级型样式。*用于铁基(F)、非铁基(N)或铁基及非铁基(FNF)材料。这些探头均
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与Elcometer355标准涂层测厚仪相似,但增加了些特性及存储容量。用户可自行设定批组,存储容量达10000个读数,读数可按需求输出到计算机、数据记录仪或打印机等。全套的探头模块可用于不同的情况
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37DLPlus美国达高特DAKOTA超声波测厚仪37DLPlus特点:探头自动识大屏幕的LCD,指示所有的测量信息;公制/英制选择回波-回波测量模式;20HZ扫描频率,可大范围扫描,快速测定最小
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