产品型号：CM-8826（分体化传感器涂层测厚仪）功能：测量导磁物体上的非导磁涂层和非磁性金属基体上的非导电覆盖层的厚度测量方法：F磁感应NF涡流测量范围：0～200um/500u

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产品简述：易高Elcometer456涂层测厚仪A456CFNFTI1易高Elcometer456涂层测厚仪A456CFNFTI1产品描述新版易高Elcometer456测量涂层厚度更快、更可靠、更准确。易高Elcometer456仪器分为4个类型：E型、B（基本型）、S（标准型）、T（高级型），从最初的易高456E型到现在的456T型，仪器功能不断增加，易高456T型带有记忆、字母

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产品简述：易高Elcometer456涂层测厚仪A456CFBI2易高Elcometer456涂层测厚仪A456CFBI2产品描述新版易高Elcometer456测量涂层厚度更快、更可靠、更准确。易高Elcometer456仪器分为4个类型：E型、B（基本型）、S（标准型）、T（高级型），从最初的易高456E型到现在的456T型，仪器功能不断增加，易高456T型带有记忆、字母数字

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德国K.K(KrautKramer)公司超声波测厚仪CL5适用于各种工业，尤其在汽车和航空工业中作为质量控制和生产测量的工具。它可用于钢卷等新型材料厚度的抽样检查。可通过中期或最终厚度测量对加工操作进

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涂层测厚仪AR-930的详细介绍测量范围0-1250μm测量精度±(3%H+1)分辨率1μm系统误差修正及零点校准功能√单次和连续测量方式转换功能单个及成组数据存储和删除√√最大值/最小值记录功能

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CM-8822铁基/非铁基涂层测厚仪CM-8822项目参数产品名称铁基/非铁基涂层测厚仪产品型号CM-8822功能测量导磁物体上的非导磁涂层和非磁性金属基体上的非导电覆盖层的厚度测量

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CMI900镀层测厚仪特点：精度高、稳定性好强大的数据统计、处理功能测量范围宽NIST认证的标准片全球服务及支持技术参数主要规格规格描述X射线激发系统垂直上照式X射线光学系统空冷式微聚焦型X射

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品型号：CM-8829（一体化传感器涂层测厚仪）功能：测量导磁物体上的非导磁涂层和非磁性金属基体上的非导电覆盖层的厚度测量方法：F磁感应NF涡流测量范围：0～200um/500um/

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能：测量导磁物体上的非导磁涂层和非磁性金属基体上的非导电覆盖层的厚度测量方法：F磁感应NF涡流测量范围：0～200um/500um/1000um/～15000um分辨率：0.1/1最小测

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该款测厚仪使用方便，经济实惠，读数准确可靠，用于测量各种平滑铁基（钢铁）和非铁基（铝）上的涂层厚度.菜单导航指导操作，极容易上手.反应迅速，读数准确:每分钟超过60个读数.超大屏显:成角的"大号

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DM4E超声波测厚以满足您超声波厚度检测的一切所需,能帮助你完成大量的测厚任务，尤其是磨损部件剩余壁厚的测量。DM4E是一款通用型的测厚仪，外形小巧、使用方便，性能卓越。它是一款简单、小巧、可靠、价

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DMS2超声测厚仪DMS2型超声测厚仪是一种创新的A-扫描数字测厚仪/数据记录器。它基于Krautkramer的TopCOAT专利技术（美国专利6,035,717），采用自动速率模式(Auto-V

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MIKROTESTNi50涂镀层测厚仪MIKROTESTNi50涂层测厚仪MIKROTESTNi50涂镀层测厚仪MIKROTESTNi50涂层测厚仪MIKROTESTNi50

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MIKROTESTNi100涂镀层测厚仪MIKROTESTNi100涂层测厚仪MIKROTESTNi100涂镀层测厚仪MIKROTESTNi100涂层测厚仪的详细介绍MIKROT

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详细说明产品说明：本仪器采用了涡流测厚法，它能快速、无损伤、精密地测量非磁性金属基体上非导电覆盖层的厚度(如铜、铝、锌、锡等基体上的:珐琅、橡胶、油漆、塑料层等)。可广泛用于在制造业、金属加工业

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这些仪器容易操作，是设计用于测量涂层厚度的。干膜：由2个固定点（或外部管套）和一个中心活动传感器，给出的涂层表面和基体光面的高度测量值的差，就是干膜的厚度。湿膜：在仪器上部有一个带凸边的螺钉，可使探头

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产品型号：CM-8825（一体化传感器涂层测厚仪）有五键和七键可供选择功能：测量导磁物体上的非导磁涂层和非磁性金属基体上的非导电覆盖层的厚度测量方法：F磁感应NF涡流测量范围：0～2

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MINITEST720/730/740涂层测厚仪-创新的SIDSP（探头内部数字信号处理）技术提升了测量的精确性-测量范围达15mm，可更换F、N或FN探头，供内置或外接探头使用-FN探头自动

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德国K.K(KrautKramer)公司超声波测厚仪DM4系列中的DM4DL，小巧轻便，操作简单，功能卓越,仅重225克外型小巧只有9个按键。其中DM4和DM4DL特有的DUAL-MULTI模式--即

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