CM-8823非铁基涂层测厚仪CM8823CM-8823非铁基涂层测厚仪CM8823产品简介产品型号:CM-8823功能:测量铝基上的非导电涂层的厚度测量范围:0～1000um/0-40mil

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产品简述：易高Elcometer456铁基分体式涂层测厚仪A456CFBS易高Elcometer456铁基分体式涂层测厚仪A456CFBS新版易高Elcometer456测量涂层厚度更快、更可靠、更准确。易高Elcometer456仪器分为4个类型：E型、B（基本型）、S（标准型）、T（高级型），从最初的易高456E型到现在的456T型，仪器功能不断增加，易高456T型带有记忆

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Elcometer456整体式（内置）探头适合测量平、曲形表面。单手操作、无需连线，"大脚"探头可测得重复、一致的结果。Elcometer456整体式涂层测厚仪适合测量有机、无机涂层厚度，基体类型

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项目参数产品名称铁基涂层测厚仪产品型号CM-8820功能测量铁磁性金属基体上的非导磁涂层的厚度测量范围0～2000um分辨率0.1/1准确度±(5%n+1)电源4节5

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详细说明：AR931涂层测厚仪测量范围0-1999μm测量精度±(3%H+1)分辨率0.1/1μm系统误差修正丶零点及两点校准功能√单次和连续测量方式转换功能√单个

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铁基涂层测厚仪CM-8823项目参数产品名称非铁基涂层测厚仪产品型号CM-8823功能测量非磁性金属基体上的非导电覆盖层的厚度测量范围0～200um/500um/1000um/～

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产品简述：Elcometer355标准型涂层测厚仪A355-SElcometer355标准型涂层测厚仪A355-S产品描述Elcometer355的突出特点是精确、简单、多功能和耐用，是真正先进的手持式测量系统，节约时间和成本是它的特性仪器分为标准型和高级型，超大内存可分批存储多达10000个读数，按照要求，数据可传输至电脑、数据记录仪或打印机。有多

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产品简述：Elcometer355高级型涂层测厚仪A355-TElcometer355高级型涂层测厚仪A355-T产品描述Elcometer355的突出特点是精确、简单、多功能和耐用，是真正先进的手持式测量系统，节约时间和成本是它的特性仪器分为标准型和高级型，超大内存可分批存储多达10000个读数，按照要求，数据可传输至电脑、数据记录仪或打印机。有多

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产品简述：易高Elcometer456涂层测厚仪A456CFBI3易高Elcometer456涂层测厚仪A456CFBI3产品描述新版易高Elcometer456测量涂层厚度更快、更可靠、更准确。易高Elcometer456仪器分为4个类型：E型、B（基本型）、S（标准型）、T（高级型），从最初的易高456E型到现在的456T型，仪器功能不断增加，易高456T型带有记忆、字母数字

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详细说明产品说明：TT220采用了磁性测厚法，是一种超小型测量仪，它能快速、无损伤、精颏地进行铁磁性金属基体上的覆层厚度的测量。可广泛用于制造业、金属加工业、化工业、商检等检测领域。由于该仪器

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产品简述：易高Elcometer456涂层测厚仪A456CFNFSI1易高Elcometer456涂层测厚仪A456CFNFSI1产品描述新版易高Elcometer456测量涂层厚度更快、更可靠、更准确。易高Elcometer456仪器分为4个类型：E型、B（基本型）、S（标准型）、T（高级型），从最初的易高456E型到现在的456T型，仪器功能不断增加，易高456T型带有记忆、字母

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铁基涂层测厚仪CM-8821项目参数产品名称铁基涂层测厚仪产品型号CM-8821功能测量导磁物体的非导磁涂层的厚度测量范围0～200um/500um/1000um/～15000um

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TT210时代数字式涂层测厚仪TT210详细说明产品说明：本仪器是磁性、涡流一体的便携式覆层测厚仪，它能快速、无损伤、精密地进行涂、镀层厚度的测量。既可用于实验室，也可用于工程现场。本仪器能广泛

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与Elcometer355标准涂层测厚仪相似，但增加了些特性及存储容量。用户可自行设定批组，存储容量达10000个读数，读数可按需求输出到计算机、数据记录仪或打印机等。全套的探头模块可用于不同的情况

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有五键和七键可供选择功能：测量导磁物体上的非导磁涂层和非磁性金属基体上的非导电覆盖层的厚度测量方法：F磁感应NF涡流测量范围：0～200um/500um/1000um/～15000um分

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TT260数字式涂层测厚仪TT260的详细介绍产品说明：概述本仪器是一种便携式测量仪，它能快速、无损伤、精密地进行涂、镀层厚度的测量。既可用于实验室，也可用于工程现场。通过使用不同的测头，可满足

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CM-8822铁基/非铁基涂层测厚仪CM-8822的详细介绍的详细介绍项目参数产品型号CM-8822功能测量导磁物体上的非导磁涂层和非磁性金属基体上的非导电覆盖层的厚度测量范围0～2

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模拟信号处理时代已成过去，数字信号处理将成为未来的趋势什么是SIDSP？SIDSP是由ElektrPhysik（简称EPK）研发的，世界领先的涂层测厚探头技术。EPK此项技术为涂层测厚领域的创新奠定

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