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BW-4022C半导体综合测试系统BW-4022C半导体综合测试系统可同时针对：【光耦】Input:Vf/It/Ct；Output:Iceo/BVceoBVeco;TransferCharacteristics:If/CTRVice(sat)/Riso/Cf/Fc/Tr/Tf.适用于〖三极管管型光耦/可控硅光耦/继电器光耦〗进行测试。【二极管】--Kelvin/Type_ident/Pin_test/
STO1400光耦测试仪陕西天士立科技生产的STO1400光耦测试仪，可测试各类光耦参数，如单通道、双通道、多通道的模拟光耦，数字光耦，线性光耦、高速光耦，等。测试参数包括耐压BVCEO/BVECO、输入正向压降VF、输出端反向漏电流ICEO、反向漏电流IR、电流传输比CTR、输出导通压降VCE(sat)开关时间toff
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