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半导体膜厚仪相关产品
  • X射线膜厚测试仪

    产品介绍:

    X射线膜厚测试仪的测试方法主要有:磁性测厚法,放射测厚法,电解测厚法,涡流测厚法,超声波测厚法。测量注意事项:⒈在进行测试的时候要注意标准片集体的金属磁性和表面粗糙度应当与试件相似。⒉测量时试样表面保持垂直。⒊测量时要注意基体金属的临界厚度,如果大于这个厚度测量就不受基体金属厚度的影响。⒋测量时要注