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设备主要利用涡电流测试原理,非接触测试半导体材料,石墨烯,透明导电膜,碳纳米管,金属等材料的方阻(电阻率)。 可实现单点测试,亦可以实现面扫描的测试功能,可用于材料研发及工艺的监测及质量控制。 本仪器为非接触,非损伤测试,具有测试速度快,重复性佳,测试敏感性高,可以直接测试产
【陕西】 陕西卫水环保科技有限公司
FPP230A是专为光伏应用设计的扫描四探针电阻测试仪,可以对最大230mm样品进行快速、自动的扫描,获得样品不同位置的方阻/电阻率分布信息。探针头借鉴了机械钟表机芯制造工艺,使用红宝石轴承引导碳化钨探针,确保高机械精度和长使用寿命。动态测试重复性(接近真实场景)可达0.2%,为行业领先水平。1~1
【江苏】 美能光伏科技(江苏)有限公司
利用结光电压技术非接触测试具有P/N或N/P结构的样品的方阻(发射极薄层方阻),非损伤测试,具有测试 速度快,重复性佳,测试敏感性高,可以直接测试产品片等优点。
【江苏】 九域半导体科技(苏州)有限公司
涡流法电阻率分析仪(晶锭和晶片),应用于半导体Wafer及Ingot的电阻率分析; 涡流法电阻率探头(晶锭和晶片),应用于光伏、太阳能Si片的检测; SPV法PN探头,应用于光伏、太阳能Si片的检测; 电容法厚度探头,应用于Wafer的厚度测量,分辨率0.1m; JPV法薄膜方阻探头及分析系统,应用于
【江苏】 九域半导体科技(苏州)有限公司