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BW-ITSM浪涌电流测试仪（方波100m-10ms/＜1000A,正弦波100m-10ms/＞3000A）可加热浪涌电流测试系统BW-ITSM（方波100m-10ms/＜1000A,正弦波100m-10ms/＞3000A）可加热是SIC相关半导体器件测试的重要检测设备测试原理：模拟浪涌电流产生：通常利用专门的电路或装置来模拟电力系统中
华科智源-二极管浪涌电流是指电源线接通瞬间或是在电路出现异常情况下产生的远大于稳态电流的峰值电流或过载电流。半导体器件在工作时，有时要承受较大的冲击电流，器件的用途不同，要求器件能承受浪涌电流的能力也不同，为了检测器件承受浪涌电流的能力，可产生一个大的浪涌电流施加于被测器件
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