霍尔迁移率

产品描述 设备主要利用微波测试原理，非接触式测量射频HEMT结构半导体材料的方阻、迁移率及载流子浓度。可实现单点测试， 亦可以实现面扫描的测试功能，具有快速，无损，准确等优势，可用于材料研发及工艺的监测及质量控制。 特点 适用于迁移率量测范围在100cm²/V s～30

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PALAS设备U-SMPS?通用扫描电迁移率粒径谱仪?

集成X射线电离功能的通用扫描电迁移率粒径谱仪 适用于8-1200 nm的各种应用 PALAS设备U-SMPS 2050X/ 2100 X / 2200 X PALAS设备U-SMPS​通用扫描电迁移率粒径谱仪​ Palas@通用扫描电迁移率粒径谱仪(U-SMPS)可提供两种版本。长分类柱(2050X/2100X / 220O型号)可以确定8至1200 nm的粒径

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