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一、概述高压加速老化试验箱是用于测试半导体封装之湿气能力,待测产品被置于严苛之温度、湿度及压力下测试,湿气会沿者胶体或胶体与导线架之接口渗入封装体,多层线路板,光伏组件,EVA,IC,LED,LCD,磁性材料,高分子材料等产品之密封性能的检测,测试其制品的耐压性,气密性。二、主要技术参数1.型号
产品的概述:RK-HAST高压高加速老化试验箱,PCT高压加速老化试验箱,我公司主要致力于高压加速老化试验箱的研发与生产,是兼研发、生产、销售于一体的专业试验设备有限公司。高压加速老化试验箱也称高压加速老化寿命试验箱、主要用于评估在湿度环境下产品或材料的可靠性,这是通过在高度受控的压力
一.试验机用途:(磁性材料PCT高压加速老化试验机磁性材料PCT老化试验箱瑞凯品牌)瑞凯PCT试验机主要是测试半导体封装之湿气能力,待测产品被置于严苛之温度、湿度及压力下测试,湿气会沿者胶体或胶体与导线架之接口渗入封装体,常见之故障方式为主动金属化区域腐蚀造成之断路,或封装体引脚间