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光学薄膜测厚仪

产品型号： ST2000-DLXn
供应商：上海衡畅电子科技有限公司
产品品牌： K-MAC
关键词：测厚仪光学薄膜厚度测量
行业类型：电力
设别类型：电力仪器仪表测量仪器

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地址：上海闵行区莘庄镇珠城路99弄24号1102室

商品信息

　尺寸　　190　x　265　x　316　mm　
　　重量　　12Kg　
　　类型　　手动的　
　　测量样本大小　　≤　4"　　
　　测量方法　　非接触式　
　　测量原理　　反射计　
　　特征　　测量迅速，操作简单
　　
　　非接触式，非破坏方式
　　
　　优秀的重复性和再现性
　　
　　用户易操作界面
　　
　　每个影像打印和数据保存功能
　　
　　可测量多达3层
　　
　　可背面反射
　　
　　活动范围　　150　x　120mm（70　x　50mm　移动距离）　
　　测量范围　　200Å～　35㎛（根据膜的类型）　
　　光斑尺寸　　20㎛　典型值　
　　测量速度　　1～2　sec。／site　
　　应用领域　　聚合体：　PVA，　PET，　PP，　PR　。。。
　　
　　电解质：　
　　
　　半导体：　Poly-Si，　GaAs，　GaN，　InP，　ZnS。。。
　　
　　选择　　参考样品（K-MAC　or　KRISS　or　NIST）　　
　　探头类型　　三目探头　
　　nosepiece　　Quadruple　Revolving　Mechanism　with　Inward　Tilt　
　　照明类型　　12V　35W　Halogen　Lamp　Built-in　Control　Device　＆　Transformer