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HALT HASS 加速寿命测试箱

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址: 廣東省東莞市松山湖科技產業園北部工业城

商品信息
技术指标
温度范围:+105℃~+142℃;
湿度范围:75%RH~100%RH;
压力范围:0.02~0.196MPa(相对压力);
温度波动度:±0.5℃ ;
湿度偏差:±3%RH ;
试验模式:干湿球温度控制;非饱和加压蒸汽; 湿润饱和控制;
容积:18L。
主要用途
各类电子、电工、电器、塑胶等原材料和器件进行耐热、耐湿、耐压力试验及品管工程的可靠性测试、适应性试验。特别适用于光纤、LCD、晶体、电感、PCB、电池、电脑、手机等产品的耐高温、耐压力、耐潮湿寿命试验。高压、高温、高湿环境下多种涂镀层的结合力性能测试。HALT试验  HASS试验
振动台技术规范Specification:  轴向:3个轴向6个自由度(3 linear and 3 rotational)  频率范围:2Hz~10KHz  总均方根值Grms:60g
试验箱Specification:  温度范围:     -100ºC to +200ºC    温度变化率: 60℃/min  
HALT测试流程:  Thermal Step Stress Test    Rapid Thermal Transitions Stress Test(60℃/min)     Vibration Step Stress Test   Combined Environment Stress Test
电子器件定量加速寿命试验   光器件定量加速寿命试验  组件级模块定量加速寿命试验   光电子器件2000hours/5000Khours,高温/8585/低温/温度循环等加速寿命试验
产品寿命数据统计计算及分析:  Chip/Device/Component失效率FIT数据统计计算   
    光器件Random Failure Rate/Wear-out Failure Rate统计分析
产品寿命的Weibull分析        试验室产品浴盆曲线分析    产品试验室返修率数据统计计算及分析
产品使用寿命Uselife统计计算及分析      试验室产品货架期数据预估及分析        Field data统计计算及分析
试验箱Specification:
温度范围:-40℃~+150℃    温度波动度:≤ ±0.5℃     温度均匀度:≤ ±2℃        温度变化率: 10℃/min         温变速率呈线性变化
满足标准: JEDEC47/78   GR468  客户定制的试验方案