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X-RAY膜厚测试仪性能特点
+ 高效超薄窗X光管，指标达到国际先进水平。
+ 最新的数字多道技术，让测试更快，计数率达到100000CPS，精度更高。在合金检测中效果更好。
+ 最新数字半导体探测器，良好的能量线性、能量分辨率和能谱特性，较高的峰背比。
+ 专利产品—信噪比增强器（SNE），提高信号处理能力25倍以上。
+ 低能X射线激发待测元素，对Si、P等轻元素激发效果好。
+ 智能抽真空系统，屏蔽空气的影响，大幅扩展测试的范围。
+ 自动稳谱装置保证了仪器工作的一致性。
+ 高信噪比的电子线路单元。
+ 针对不同样品自动切换准直器和滤光片，免去手工操作带来的繁琐。
+ 解谱技术使谱峰分解，使被测元素的测试结果具有相等的分析精度。
+ 多参数线性回归方法，使元素间的吸收、增强效应得到明显的抑制。
+ 内置高清晰摄像头。
+ 液晶屏显示让仪器的重要参数（管压、管流、真空度）一目了然。
X-RAY膜厚测试仪采用X射线管和高压电源。X射线管装在一个抽真空后注满油的全密封的油箱中保证绝缘和良好冷却，高压等级根据所造型号不同有所区别，加上传感器具有的温度自动保护与报警功能，提高了X射线管的稳定性和使用寿命。模块化设计、免维护设计方案及规范的制造保证了设备系统高可靠性。
X-RAY膜厚测试仪检测器。X射线检测器主要由光电倍增管和前置放大器组成。光电倍增管 的阴极加有高压（通常几百伏）。当X射线光子射到光电倍增管的阴极时产生电子，在阴极电压的作用下，倍增极把阴极的每个电子（假设每极放大n个电子）增加到d (d为倍增极数）个电子，即放大管电流，最终到达阳极，然后通过前置放大器把管电流放大并转换成电压形式。
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