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半导体分立器件IV性能测试仪

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商品信息

半导体分立器件IV性能测试仪认准普赛斯仪表,详询一八一四零六六三四七六,普赛斯数字源表国产自主研发,厂家直销!性价比高,测试范围更广,输出电压高达300V,支持USB存储,一键导出报告,符合大环境下国内技术自给的需求,可及时与客户沟通,为客户提供高性价比系统解决方案,及时指导客户编程,加速测试系统开发

半导体分立器件IV性能测试仪优点:

同时精确提供和测量电压和/或电流;

      同步测量,减少测试时间

提供和测量非常广的电流和电压;

      电压测试范围30uV-300V,电流测试范围1pA-1A

支持运行用户脚本程序,无需电脑控制,提高生产测试速度;

      序列测试,简化操作,降低成本

采用用户熟悉的图形界面,不管用户经验是否丰富,使用起来都非常简便;

      触屏操作

 
与传统电源比:

电源过零需要改变线连接方式;

    增加需反复开关机械开关,降低了设备可靠性

电压电流限制精度有限;

电压1%,电流10mA


与电源结合万用表组合比:

万用表电源组合需要编程实现设备控制及同步;

    复杂连线、编程开发

电源限压限流性能差

     限压限流精度低,瞬态特性也无法保证

半导体分立器件IV性能测试仪特点
5寸800*480触摸显示屏,全图形化操作

内置强大的功能软件,加速用户完成测试,如LIV、PIV

源及测量的准确度为0.1%,分辨率5位半

四象限工作(源和肼),源及测量范围:电流100pA~1A,电压0.3mV~300V

丰富的扫描模式,支持线性扫描、指数扫描及用户自定义扫描

支持USB存储,一键导出测试报告

支持多种通讯方式,RS-232、GPIB及以太网