u一、概述uDBC-223型半导体器件静态特性综试验台的测试方法符合JB/T7626-2013中的相关标准。u该设备具有如下特点：u1.该测试系统是一套静态综合的测试系统，综合测试参数多，技术水平较高。u2.该测试系统是一套大电流、高电压的测试设备，对设备的电气性能要求高。u3.该系统是一套静态参数的

系统特征：序号测试器件01二极管

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EN-AC1230功率器件动态参数测试系统●系统概述EN-AC1230型功率器件动态参数测试系统是针对于半导体器件进行非破坏性瞬态测试。MOEFET/JFET/IGBT/快恢复二极管、双极型三极管的动态参数测试。系统的测试原理符合相应的国家标准、*标、系统为独立式单元，封闭式结构，具有升级扩展潜能。●命名

END2050IGBT动态参数测试仪系统概述：IGBT是广泛应用于现代中、大功率变换器中的主流半导体开关器件，其开关特性决定装置的开关损耗、功率密度、器件应力以及电磁兼容性，直接影响变换器的性能。因此准确测量功率开关元件的开关性能具有极其重要的实际意义。该系统是针对IGBT器件的开关特性及

ENJ2005-B半导体分立器件测试系统系列系统概述：设备扩展性强，通过选件可以提高电压、电流和测试品种范围。在PC窗口提示下输入被测器件的测试条件点击即可完成测试任务。系统采用带有开尔文感应结构的测试插座，自动补偿由于系统内部及测试电缆长度引起的任何压降，保证测试结果准确可靠。面

西安厂商直供雪崩耐量测试仪ENX2020雪崩耐量测试系统概述向半导体的接合部施加较大的反向衰减偏压时，电场衰减电流的流动会引起雪崩衰减，此时元件可吸收的能量称为雪崩耐量，表示施加电压时的抗击穿性。对于那些在元件两端产生较大尖峰电压的应用场合，就要考虑器件的雪崩能量，电压尖峰所集中

美国STI替代品易恩半导体分立器件测试系统EN-2005B功率器件综合测试系统系统特征测试范围广（19总大类，27分类）升级扩展性强，通过选件可提升电压电流，和增加测试品种范围。支持电压电流阶梯升级至2000V，1250A采用脉冲测试法，脉冲宽度为美*标规定300uS被测器件引脚接触自动判断功能

XK-II可控硅电源分立件式XK-2系列，分立件式可控硅电源是为减量法斗式秤配料系统设计的专用电源，可与配料控制系统配套，可组成自动配料系统，本电源集中在一个机壳内，具有结构紧凑、操作简便、可靠性高等优点。主要技术指标电源电压：220V10%50HZ4%直流输出电压：0-90V　输出电流：0-20

PRX分立器件T9G0121203DH、5SDD71X0200原装平板可控硅、二极管本公司代理销售的进口品牌功率模块广泛应用于电磁炉、变频器、逆变器、UPS电源、EPS电源、开关电源、电机控制、变焊机、固态继电器、有源滤波器、风力发电设备、工业传动装置、电梯或辅助传动设备、机车与列车用电源、电能表、照明电器

电灯的发明照亮了人类的整个世界，但随着全球气候变暖的严峻形势以及智能化技术的迅速发展应用，传统的照明产品当前面临着两个新的挑战：一方面是人们日益关注的节能需求，一方面是正在兴起的产品智能化趋势，只有高性能的照明产品才能赢得市场青睐。产品范围：灯具、控制装置、灯座、光源产品、

由福特、克莱斯勒、通用组成的汽车电子委员会（AEC）颁布了光电器件的可靠性标准AEC-Q102，对光电器件的可靠性展开了严格的测试要求，为主机厂提供了可靠性高、使用寿命长的光电器件。广电计量AEC-Q技术团队，执行过大量的AEC-Q测试案例，积累了丰富的认证试验经验，可为您提供更专业、更可靠的测试服

光纤模式转换器ModeFieldAdapter105/125到62.5/125和62.5/125到9/125ParametersUnitSpecificationTestdataOperatingWavelengthRangedB

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整体低成本方案的了解一下，莱士LIS9412非隔离低PF60V120MA80V150MA现市面上没有更低的了！方案

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电子器件检漏台一般要求：1.对氦抽速高（提高工艺节拍）2.人体工程学设计，操作舒适，保证长时间操作3.功能全，可以适用于多种检漏工艺4.操作、维修简单5.可以在不同的生产线之间移动设计特点：1.直

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