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BW-IFSM/ITSM半导体浪涌测试系统产品用途:BW-IFSM/ITSM可用于各类二极管(Diode)以及可控硅(SCR)的正向浪涌电流(IFSM)试验,包括三极管(Triode)、MOSFTE、IGBT等全控器件的内置二极管的浪涌测试。二极管元件在实际使用中,除了能长期通过额定通态平均电流外,还应能承受一定倍数的浪