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光耦开关时间参数测试仪

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BC3193TM分立器件时间参数测试系统　　　　系统用途　　BC3193TM分立器件时间参数测试系统用于半导体二极管、三极管、MOS管、光耦等器件的开关时间参数测试。可用于各类整机厂家、科研院所的质量检测部门进行入厂检验、可靠性分析。　　　　系统特点　　◆PC机为系统的主控机　　◆菜单式测试程序编辑软件操作简便　　◆正

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