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BC3193TM分立器件时间参数测试系统 系统用途 BC3193TM分立器件时间参数测试系统用于半导体二极管、三极管、MOS管、光耦等器件的开关时间参数测试。可用于各类整机厂家、科研院所的质量检测部门进行入厂检验、可靠性分析。 系统特点 ◆PC机为系统的主控机 ◆菜单式测试程序编辑软件操作简便 ◆正
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