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BC3193TM 分立器件时间参数测试系统 系统用途 BC3193TM 分立器件时间参数测试系统用于半导体二极管、三极管、MOS管、光耦等器件的开关时间参数测试。可用于各类整机厂家、科研院所的质量检测部门进行入厂检验、可靠性分析。 系统特点 ◆PC机为系统的主控机 ◆菜单式测试程序编辑软件操作简便 ◆正负脉冲激励源 ◆美国Lecroy 400M存储示波器用于时间测量，最小时间测量分辨率200PS ◆通过IEEE488接口连接校准数字表传递国家计量标准对系统进行校验 ◆系统终身技术支持 测试参数 开启时间Ton；关断时间Toff；延迟时间Td；存储时间Ts；上升时间Tr；下降时间TF等参数。 脉冲发生器 脉冲幅度：±5Vpp～±20Vpp（可编程） 脉冲边沿：≤5nS（由0到正或负） 脉冲宽度：1μS～1mS（可编程） 占 空 比：0.1%～10% （可编程） 时间测量（同示波器指标） 最高频率：400MHz 触发灵敏度：2mV/div 最小时间测量分辨率：200PS 测试系统硬件基本配置 联想计算机一台：Windows操作系统、PCI插槽1个以上； 计算机接口板（CPUINT）一块； 系统接口板（SYSINT）一块含GPIB接口； 数据采集板（VM）一块：16位ADC，16X256 RAM； 30V/20A程控电压/电流源（VIS）一块； 30V/2A程控电压/电流源（VIS）一块； 脉冲发生器电压源一块； 高速可编程脉冲发生器一块； 美国Lecroy 400M存贮示波器一台； 电源控制板（PWC）一块； 自检模板一个； 测试适配器：根据用户需要配置
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