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光耦开关时间参数测试仪

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商品信息

 BC3193TM 分立器件时间参数测试系统      系统用途   BC3193TM 分立器件时间参数测试系统用于半导体二极管、三极管、MOS管、光耦等器件的开关时间参数测试。可用于各类整机厂家、科研院所的质量检测部门进行入厂检验、可靠性分析。      系统特点   ◆PC机为系统的主控机   ◆菜单式测试程序编辑软件操作简便   ◆正负脉冲激励源   ◆美国Lecroy 400M存储示波器用于时间测量,最小时间测量分辨率200PS   ◆通过IEEE488接口连接校准数字表传递国家计量标准对系统进行校验   ◆系统终身技术支持      测试参数   开启时间Ton;关断时间Toff;延迟时间Td;存储时间Ts;上升时间Tr;下降时间TF等参数。   脉冲发生器   脉冲幅度:±5Vpp~±20Vpp(可编程)   脉冲边沿:≤5nS(由0到正或负)   脉冲宽度:1μS~1mS(可编程)   占 空 比:0.1%~10% (可编程)   时间测量(同示波器指标)   最高频率:400MHz   触发灵敏度:2mV/div   最小时间测量分辨率:200PS      测试系统硬件基本配置   联想计算机一台:Windows操作系统、PCI插槽1个以上;   计算机接口板(CPUINT)一块;   系统接口板(SYSINT)一块含GPIB接口;   数据采集板(VM)一块:16位ADC,16X256 RAM;   30V/20A程控电压/电流源(VIS)一块;   30V/2A程控电压/电流源(VIS)一块;   脉冲发生器电压源一块;   高速可编程脉冲发生器一块;   美国Lecroy 400M存贮示波器一台;   电源控制板(PWC)一块;   自检模板一个;   测试适配器:根据用户需要配置