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BC3193TM 分立器件时间参数测试系统 系统用途 BC3193TM 分立器件时间参数测试系统用于半导体二极管、三极管、MOS管、光耦等器件的开关时间参数测试。可用于各类整机厂家、科研院所的质量检测部门进行入厂检验、可靠性分析。 系统特点 ◆PC机为系统的主控机 ◆菜单式测试程序编辑软件操作简便 ◆正负脉冲激励源 ◆美国Lecroy 400M存储示波器用于时间测量,最小时间测量分辨率200PS ◆通过IEEE488接口连接校准数字表传递国家计量标准对系统进行校验 ◆系统终身技术支持 测试参数 开启时间Ton;关断时间Toff;延迟时间Td;存储时间Ts;上升时间Tr;下降时间TF等参数。 脉冲发生器 脉冲幅度:±5Vpp~±20Vpp(可编程) 脉冲边沿:≤5nS(由0到正或负) 脉冲宽度:1μS~1mS(可编程) 占 空 比:0.1%~10% (可编程) 时间测量(同示波器指标) 最高频率:400MHz 触发灵敏度:2mV/div 最小时间测量分辨率:200PS 测试系统硬件基本配置 联想计算机一台:Windows操作系统、PCI插槽1个以上; 计算机接口板(CPUINT)一块; 系统接口板(SYSINT)一块含GPIB接口; 数据采集板(VM)一块:16位ADC,16X256 RAM; 30V/20A程控电压/电流源(VIS)一块; 30V/2A程控电压/电流源(VIS)一块; 脉冲发生器电压源一块; 高速可编程脉冲发生器一块; 美国Lecroy 400M存贮示波器一台; 电源控制板(PWC)一块; 自检模板一个; 测试适配器:根据用户需要配置
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半导体分立器件测试系统,分立器件动态参数测试系统,大功率分立器件测试系统,模数混合集成电路测试系统 |
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