BC3193半导体分立器件测试系统 　　系统用途 　　BC3193半导体分立器件测试系统是半导体参数测试的专用设备，用于半导体器件生产厂家进行圆片中测或封装成测，各类整机厂家、科研院所的质量检测部门进行入厂检验、可靠性分析测试 　　系统特点 　　◆PC机为系统的主控机 　　◆菜单式测试程序编辑软件操作简便 　　◆预先连接测试自动识别NPN/PNP 　　◆0～±20V程控高压源 　　◆高达±10A程控高流源 　　（外接高流台可扩充到±10A） 　　◆测试漏流最小分辨率达6.1pA 　　◆四线开尔文连接保证加载测量的准确 　　◆通过IEEE488接口连接校准数字表传递国家计量标准对系统进行校验 　　◆Prober接口、Hler接口可选（16Bin） 　　◆可为用户提供丰富的测试适配器 　　 　　测试对象 　　二极管/稳压管/恒流二极管/整流桥/瞬态抑制管： BVR、IR、VF、VZ、RZ 　　三极管：BVCBO、BVCEO、BVCES、BVCER、BVEBO、HFE、ICBO、ICBS、ICEO、ICES、ICER、IEBO、VBEF、VBCF、VBESAT、VCESAT 　　可控硅： BVGKO、IAKF、IAKR、IGKO、IGT、 　　IH、IL、VGT、VON 　　场效应管： BVDSO、BVDSS、BVDSR、BVDGO、BVGDS、BVGSO、BVGSS、GFS、IDSO、IDSS、IDSR、IG、IGDO、IGSO、IGSS、RDS（on）、VDS（on）、VGS、VGS（th）、VP 　　IGBT： BVCES、BVCGR、BVGES、ICES、IGES、VCESAT、VGETH、VGS（off） 　　达林顿矩阵：ICEX、IIN（ON）、IIN（Off）、VIN（on）、IR、VCESAT、BVR、HFE、ICEO 　　单结晶体管：Iv、VV、IP、VP、VEB1、ETA、RBB、IEB1O、IB2 　　光敏二、三极管：ID、IL、VOC、ISC、BV、BVCE 　　光耦（输出类型：二极管、三极管、可控硅、MOSFET）： CTR、BVECO、BVCBO、BVCEO、ICBO、ICEO、HFE、VBESAT、VCESAT、IR、IAKF、IAKR（加时间测量选件Tr、TF、Toff、Ton） 　　固态继电器：IFoff、IFon、IR、Ioff、Ion、RON、VF、VR、Von 　　硬件基本配置 　　主控计算机一台：Windows操作系统、PCI插槽1个以上； 　　计算机PCI接口板（CPUINT）一块；系统接口板（SYSINT）一块（含GPIB接口）； 　　数据采集板（VM）一块； 　　40A/30V程控电流电压源（VIS）二块； 　　±20V程控电压源（HVS）一块； 　　电流/电压转换板（IVC）一块； 　　电源控制板（PWC）一块； 　　测试台矩阵板（STATION）一块； 　　自检模板2个； 　　测试适配器4个（二极管、TO-92、TO-3、TO-20）