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BC3193半导体分立器件测试系统 测试系统用途及主要测试对象：二极管，三极管，可控硅，场效应管，（IGBT）绝缘栅双极三极管，达林顿矩阵，单结晶体管，光敏二极管，光敏三极管，光电耦合器，固态继电器等，DC／DC模块参数测试仪，MOS测试仪，三极管开关时间测试仪。 二极管及整流桥：VR、IR、VF、VZ、HVZ、动态阻抗。 三极管：BVCBO、BVCEO、BVCER、BVCES、BVEBO、ICBO、ICEO、ICER、ICES、IEBO、VCES、VBES、HFE. 可控硅：IGT、IH、IL、VGT、VON、BVAKF、BVAKR、BVAKO、IAKF、IAKR. 场效应管：BVDSS、BVDSR、BVDSO、BVDGO、BVGSO、BVGSS、IDSS、IDSO、IGDO、IGSO、IDSR、VGS、VDS、VTH、gm. 达林顿管：VCESAT、ICEO.R.S、IEBO、HFE、VBESAT、BVCEO.IGBT、BVCGR、BVGES、TGES、VCEST、VGETH. 光电耦合器：VF、IR、BVR、BVCEO、ICEO、CTR、VCESAT. ＊测试系统可对器件测试结果进行存储和打印。 ＊测试原理符合相应的国家标准，国家*用标准和行业标准。 ＊采用脉冲法测试功率参数，符合国*标并有效的抑制测试温生。 ＊采用Kelvin测试原理，排除线路电阻及接触电压，使大电流的参数测试更准。
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半导体分立器件测试系统，分立器件动态参数测试系统，大功率分立器件测试系统，模数混合集成电路测试系统 |
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