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BC3193半导体分立器件测试系统 测试系统用途及主要测试对象：二极管，三极管，可控硅，场效应管，（IGBT）绝缘栅双极三极管，达林顿矩阵，单结晶体管，光敏二极管，光敏三极管，光电耦合器，固态继电器等，DC／DC模块参数测试仪，MOS测试仪，三极管开关时间测试仪。 二极管及整流桥：VR、IR、VF、VZ、HVZ、动态阻
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