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X-RAY膜厚测试仪性能特点+高效超薄窗X光管，指标达到国际先进水平。+最新的数字多道技术，让测试更快，计数率达到100000CPS，精度更高。在合金检测中效果更好。+最新数字半导体探测器，良好的能量线性、能量分辨率和能谱特性，较高的峰背比。+专利产品信噪比增强器（SNE），提高信号处理能力25倍以上。+低能X射线激发待测元
膜厚测试仪产品特点：1.即放即测！通过自动定位功能，放置样品后仅需几秒，便能自动对准观察样品焦点。10秒钟完成50nm的极薄金镀层测量！2.以最佳的设计实现微小区域下的高灵敏度，即使在微小准直器（0.1、0.2mm）下，也能够大幅度地提高膜厚测量的精度。3.无标样测量！4.将薄膜FP软件进一步扩充，即使没有厚度标准物质也能
x荧光膜厚测试仪产品应用：（1）电子行业：有效控制生产过程，提高生产力，分析电子件上的金和钯的厚度，例如Au/Ni/Cu，Au/Pd/Ni/Cu，测量线路板上的可焊性，比如Ag/Cu/Epoxy。（2）五金电镀行业：电镀表面处理的成本最小化，产量最大化，多样品和多点分析，单层或多层厚度测量，镀液成份分析。（3）贵金属/金属合金：珠宝
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