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U-III搭载HeNe激光传感器，分辨率达0.1微米，支持0.1-5.0微米颗粒粒径的六通道分类统计（0.1/0.2/0.3/1.0/3.0/5.0m），覆盖半导体制造中对超细微粒的严苛检测需求。静态采样模式：通过优化气流控制，减少测量误差，提升数据稳定性。智能化设计与操作体验7英寸高分辨率触控屏：支持实时数据可视化
UKMICRONOPTOELECTRONICS的表面粒子检测器系列通过以下技术实现电子半导体行业表面污染的量化监测和控制：核心技术原理界面颗粒再悬浮技术：采用先进界面技术，通过物理或气流方式将附着在关键表面的颗粒重新悬浮，便于后续检测。高精度光学检测：基于激光光学传感器和光散射原理，实时捕获悬
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