品　　牌：

Tek

产品型号：

TDS540

产品指标：

500MHz带宽

产品信息：

示波器   TDS540

·500MHz带宽
·最高1GS/s采样率
·四通道
·时间间隔、2ns毛刺、脉冲幅度异常，
逻辑图及状态触发
·1mV/格至10V/格灵敏度
·无限余辉和可变余辉显示
·记录长度每通道50,000点
·8-bit垂直分辨率，高分辨率方式时
可提高至15bit
·1%垂直精度
·可选FFT，微分及积分
·25种参数自动测量
·高分辨率彩色显示
·3.5”DOS兼容磁盘
信号采集系统
通道数：四个
数字化仪：四个
带度：500MHz
灵敏度：1mV至/10V格
移位范围：±5格
偏置±1V.1～99.5mV/格；
　　±10V,100mV～995mV/格；
　　±100V, 1～10V/格
最高采样器：1GS/s

垂直系统
直流增益精度：±1.0%
垂直分辨率:8-bit（将10.24个垂直格分成256级）
模拟带宽选择：20MHz,100MHz或全带宽
输入耦合：交流,直流或接地
输入阻抗:1MΩ/10pF或50Ω（交流或直流耦合）
最大输入电压：±400V(直流+交流峰值)、频率高于1MHz时，
　　　　　　以20dB/倍频程下降。1MΩ输入阻抗或接地耦合。
通道间隔离：≥100MHz时，>100:1; >30:1两通道之间有着相同
　　　　　　的电压偏转系数
AC耦合时低频限制：≤10Hz,AC/1MΩ耦合时；
　　　　　　　　 ≤200KHz, AC/50Ω耦合时；

时基系统
时基：主时基，延迟时基
扫描速度：500ps至10s/格
时基精度：间隔大于等于1ms时为0.0025%
记录长度：500至15000点（50000点选件1M）
预触发位置：记录0～100%间
采集方式
峰值检测：捕捉高频和随机毛刺，在所有实时取样方式下，捕捉大于等于4ns的毛刺。
取样：只取样数据
包络：单次或多次采集到的最大/最小值
平均：可选择2次至10000次平均
高分辨率：提高采集低频信号的垂直分辨率和和减小噪声，例如50μs/格或更慢时达12-bit

触发系统
触发器：主触发，延迟触发
主触发方式：自动，常态，单次
延迟触发：时间延迟，事件延迟或时间和事件延迟
时间延迟范围：16ns至250s（扫描时间≤10μs）
　　　　　　 15.1ns至250s（扫描时间≥25μs）
事件延迟范围：1至9,999,999个事件
外触发输入口：>1.5KΩ；最大直流加交流峰值输入电压为±20V。

显示
波形类型：点阵或矢量，无限余辉或可变余辉，余辉时间为250ms至10s
灰度：16级亮度分级（可变余辉时）提供有关快变信号的‘Z　　轴’信息
更新率：无限余辉时，若每波形为500点，则每秒钟更新200次
CRT类型：7寸，磁偏转，水平光栅扫描，P4白色磷粉
分辨率：640×480

ZOOM（缩放）
ZOOM特性可将波形放大，压缩和进行水平，垂直位移，在不影响正常波形采集的情况下进行波形的精密比较和细微研究，与高分辨率或平均方式一起使用时，有效的垂直动态范围为100格。
阈值：可以百分数或电压值设定
门限：用垂直双线可将记录的任意部分隔离出来用于测量
快照：一次过完成单波形的25种参数测量，并即刻将结果显示出来。
游标测量：绝对值，相对值，电压，时间和频率
游标类型：水平双线（电压）；垂直双线（时间）；可独立使用或在跟踪方式下使用。

波形处理
波形函数：任选（Sinx/x或线性内插法，平均或包络
先进的波形函数（选件）：FFT、微分、积分
算术运算：加、减、乘、反相
自动设置：单键完成，根据选定信号自动设置垂直、水平和触发系统
自动极限测试：将输入波形与参考波形的上、下限比较

计算机接口
GPIB（IEEE-488.2）可程控能力：
全听/讲功能：所有模式、状态和测量均可控制。

存贮
波形：4个5000点之记录，总共50000点。
状态：十个前面板状态

物理特性
尺寸：236mm(高)×445mm(宽) ×432mm长
重量：12.3公斤