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华科智源,致力于全球电力电子测试方案提供商,主要提供电力电子相关的大功率分立器件测试仪、IGBT测试仪、变流器IGBT测试仪,牵引系统IGBT测试仪,半导体参数图示仪、IGBT动态参数测试仪、MOS管动态参数测试仪、IPM测试仪、雪崩耐量测试仪、浪涌测试仪等功率半导体测试设备.
华科智源大功率IGBT模块测试系统简介
我公司所设计生产的IGBT测试系统具备下列测试能力:
可用于IGBT模块封装测试,电动车IGBT模块检测,电动车电控部分IGBT测试;
还可以针对不同封装提供IGBT模块测试夹具;
序号 |
测试项目 |
描述 |
测量范围 |
分辨率 |
1 |
VF |
二极管正向导通压降 |
0-40V |
1mV |
2 |
IF |
二极管正向导通电流 |
0-1600A |
200A时,0.1A |
3 |
>200A时,1A |
|||
4 |
Vces |
集电极-发射极电压 |
0-5000V |
1V |
5 |
Ic |
通态集电极电流 |
0-1600A |
200A时,0.1A |
6 |
>200A时,1A |
|||
7 |
Ices |
集电极-发射极漏电流 |
0-50mA |
1nA |
8 |
Vgeth |
栅极-发射极阈值电压 |
0-40V |
1mV |
9 |
Vcesat |
集电极-发射极饱和电压 |
0-40V |
1mV |
10 |
Igesf |
正向栅极漏电流 |
0-10uA |
1nA |
11 |
Igesr |
反向栅极漏电流 |
||
12 |
Vges |
栅极发射极电压 |
0-40V |
1mV |
主机尺寸(mm): 457 (18″) × 533 (21″) × 292 (11.5″)
重量(kg): 26 (57lbs)
电 源: 240VAC(-15)
50/60HZ Fused 2A/1A
华科智源地铁高铁轨道交通检修用IGBT测试仪测试的IGBT参数包括:ICES(漏流)、BVCES(耐压)、IGESF(正向门极漏流)、IGESR(反向门极漏流)、VGETH(门槛电压/阈值)、VGEON(通态门极电压)、VCESAT(饱和压降)、ICON(通态集极漏流)、VF二极管压降、等全直流参数, 所有小电流指标保证1重复测试精度, 大电流指标保证2以内重复测试精度。
可以用在电动汽车电控的测试,
1、 测试关断时CE之间耐压和漏电流,测试电压条件为VGE=0V,VCE=700V。
2、 测试反向二极管导通时EC之间压降,测试条件为VGE=0V,IEC=250A
3、 测试导通时CE之间压降,测试条件为VGE=15V,ICE=500A
便携式IGBT测试仪 华科智源IGBT测试系统,可以仿真元件在真正工作状态下的电流及电压,并测量重要参数的数据,再与原出厂指标比较,由此来判定元件的好坏或退化的百分比。每个电流模块,都具有独立的供电系统,以便在测试时,提供内部电路及电池组充电之用; 可选购外部高压模块,执行关闭状态参数测试如:各项崩溃电压与漏电流测量达5KV。
测试参数多且完整、应用领域更广泛,但只要使用其*基本的2项功能:开启*大电流压降,关闭*小电流的漏电流,就可知道大功半导体有没有老化的现象。
便携式IGBT测试仪 华科智源IGBT测试系统,IGBT半导体器件测试系统的主要应用领域概括如下:
半导体元器件检测中心应用华科智源地铁高铁轨道交通检修用IGBT测试仪可扩大检测中心的检测范围、提高检测效率,提升检测水平,增加经济效益;
半导体元器件生产厂 应用华科智源地铁高铁轨道交通检修用IGBT测试仪可对半导体元器件生产线的成品进行全参数的测试、筛选、分析,以确保出厂产品的合格率;
电子电力产品生产、检修厂应用本公司测试系统可对所应用到的半导体元器件,尤其对现代新型IGBT大功率器件的全参数进行智能化测试、筛选、分析,以确保出厂产品的稳定性、可靠性;
航天、领域 应用本公司测试系统可对所应用到的元器件,尤其对现代新型IGBT大功率器件的全参数进行智能化测试、筛选、分析,以确保出厂产品的稳定性、可靠性;
、电子信息等领域应用本公司测试系统可对所应用到的元器件,尤其对现代新型IGBT大功率器件的全参数进行智能化测试、筛选、分析,以确保出厂产品的稳定性、可靠性;
机车、汽车、船舶控制系统生产厂应用华科智源地铁高铁轨道交通检修用IGBT测试仪可对所应用到的元器件,尤其对现代新型IGBT大功率器件的全参数进行智能化测试测试、筛选、分析,以确保出厂产品的稳定性、可靠性;
水力、电力控制系统生产厂应用华科智源地铁高铁轨道交通检修用IGBT测试仪可对所应用到的元器件,尤其对现代型IGBT大功率器件的全参数进行智能化测试测试、筛选、分析,以确保出厂产品的稳定性、可靠性。
优势行业:电力设备、地铁、铁路动力车组和运用大功率半导体器件进行设计、制造的行业。
华科智源HUSTEC-1200A-MT电参数测试仪可用于多种封装形式的 IGBT测试,还可以测量大功率二极管 、IGBT模块,大功率 IGBT、大功率双极型晶体管等器件的V-I 特性测试 , 广泛应用于轨道交通,电动汽车 ,风力发电 ,变频器, 焊机行业的 IGBT来料选型和失效分析。测试过程简单,既可以在测试主机里设置参数直接测试,又可以通过软件控制主机编程后进行自动测试。能够通过电脑操作成IGBT 的静态参数测试;
整个测试过程自动完成,电脑软件携带数据库管理查询功能,可生成测试曲线,方便操作使用。
测试实例
Vce-Ic特征曲线
Vgth-Vce特征曲线
测试界面
华科智源HUSTEC-1600A-MT电参数测试仪可用于多种封装形式的 IGBT测试,还可以测量大功率二极管 、IGBT模块,大功率 IGBT、大功率双极型晶体管等器件的V-I 特性测试 , 广泛应用于轨道交通,电动汽车 ,风力发电 ,变频器, 焊机行业,充电桩的 IGBT来料选型和失效分析以及在线检修.地铁高铁大修车间检修用IGBT测试仪
联系人: | 陈少龙 |
企业认证:
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主营产品: |
IGBT测试仪,IGBT测试仪设备,大功率IGBT测试仪,大功率IGBT测试设备,IGBT测试仪系统 |
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