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UKMICRONOPTOELECTRONICS推出U-III表面粒子计数器:突破0.1微米检测极限,重新定义半导体洁净度标准。2025年3月6日全球领先的光电技术企业UKMICRONOPTOELECTRONICS正式发布全新升级的U-III表面粒子计数器。该产品专为高洁净度制造场景设计,采用革命性激光传感技术与智能采样系统,可精准检测0.1
UKMICRONOPTOELECTRONICS的表面粒子检测器系列通过以下技术实现电子半导体行业表面污染的量化监测和控制:核心技术原理界面颗粒再悬浮技术:采用先进界面技术,通过物理或气流方式将附着在关键表面的颗粒重新悬浮,便于后续检测。高精度光学检测:基于激光光学传感器和光散射原理,实时捕获悬
UKMICRONOPTOELECTRONICS的表面粒子检测器系列通过以下技术实现电子半导体行业表面污染的量化监测和控制:核心技术原理界面颗粒再悬浮技术:采用先进界面技术,通过物理或气流方式将附着在关键表面的颗粒重新悬浮,便于后续检测。高精度光学检测:基于激光光学传感器和光散射原理,实时捕获悬